Maderitsch, Angelika (2019) Investigation of the deposition method's influence on the layered structure of organic light-emitting diodes. PhD, Universität Oldenburg.

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Abstract

An important field of development of organic light-emitting diodes (OLEDs) is the improvement of solution-based deposition techniques. Especially ink-jet printing promises an easy and cost-efficient manufacturing process on large scales. The most efficient OLEDs are multilayer devices, however fabrication of those multilayer structures using solution-based deposition methods is more challenging. To investigate the influence of the deposition method on the layered structure, simplified model devices were studied. The small molecule host material used contained sulfur and was either vapor deposited or solution processed. The other layers were prepared in the same manner for all samples. The devices' cross sections were investigated using TEM and spatially resolved EDX. Single and multilayer samples were also investigated with a combined GIXRF/XRR approach. A significant amount of sulfur could only be detected in layers beneath the solution processed host layers.

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Untersuchung des Einflusses der Herstellungsmethode auf die Schichtstruktur von organischen Leuchtdioden

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Ein wichtiges Forschungsgebiet ist die Verbesserung von löslich prozessierten organischen Leuchtdioden (OLED). Besonders Tintendruckverfahren versprechen eine einfache und kostengünstige Herstellung großflächiger Elemente. Effiziente OLED sind Mehrschichtsysteme. Um den Einfluss der Herstellungsmethode auf das Schichtsystem zu untersuchen, wurden vereinfachte Modellsysteme gefertigt. Ein Schwefel basiertes Hostmaterial wurde entweder löslich prozessiert oder aufgedampft. Die restlichen Schichten wurden für alle Proben immer gleich aufgebracht. Querschnitte der Mehrschichtsysteme wurden in einem Transmissionselektronenmikroskop mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie untersucht. Einzel- und Mehrschichtproben wurden mit Röntgenfluoreszenzanalyse unter streifendem Einfall kombiniert mit Röntgenreflektometrie untersucht. Obwohl nur das Hostmaterial Schwefel enthielt, konnte in der Schicht unterhalb der flüssig prozessierten Hostschicht Schwefel nachgewiesen werden.

Item Type:	Thesis (PhD)
Uncontrolled Keywords:	OLED, Mehrschichtsystem, Durchstrahlungselektronenmikroskopie
Subjects:	Science and mathematics > Physics
Divisions:	Faculty of Mathematics and Science > Institute of Physics (IfP)
Date Deposited:	16 Dec 2019 10:50
Last Modified:	17 Dec 2019 12:26
URI:	https://oops.uni-oldenburg.de/id/eprint/4231
URN:	urn:nbn:de:gbv:715-oops-43126
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