Geißendörfer, Stefan Ewald (2012) Numerische Simulationen von Dünnschichtsolarzellen aus amorphem und mikrokristallinem Silizium : Modellvalidierung und Einflüsse der Substrattopographie auf die elektrischen Solarzelleneigenschaften. PhD, Universität Oldenburg.

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Abstract

Die vorliegende Arbeit präsentiert die Ergebnisse von optischen und elektrischen Simulationen amorpher und mikrokristalliner Silizium-Dünnschichtsolarzellen, welche mit Hilfe von experimentellen Hell- und Dunkelkennlinien sowie EQE-Spektren validiert werden. Durch die Implementierung von Band-zu-Band-Tunnelprozessen in die Solarzellenmodellierung wird zudem gezeigt, dass einerseits die experimentell beobachteten Halbleitereigenschaften von transparenten leitfähigen Oxiden (TCO) und andererseits die interne Verschaltung mikromorpher Tandemstrukturen simulativ abgebildet werden können. Des Weiteren werden mehrdimensionale virtuelle Strukturen präsentiert, mit denen die Simulation von Lichtstreueffekten an internen Solarzellengrenzflächen ermöglicht wird. Die 3D-Modellierung wird auf neuartige TCO-Nanosäulensubstrate übertragen, indem durchschnittliche Säulengeometrien und isotrope Wachstumseigenschaften amorpher Siliziumschichten berücksichtigt werden.

Item Type:	Thesis (PhD)
Uncontrolled Keywords:	Dünnschichtsolarzelle , Silicium , Amorpher Zustande , Mikrokristall , Numerisches Modell
Subjects:	Science and mathematics > Physics
Divisions:	Faculty of Mathematics and Science > Institute of Physics (IfP)
Date Deposited:	04 Feb 2013 08:01
Last Modified:	04 Feb 2013 08:01
URI:	https://oops.uni-oldenburg.de/id/eprint/1428
URN:	urn:nbn:de:gbv:715-oops-15095
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