Plettenberg, Inka (2018) Anwendungspotential von Rastersondenmethoden zur elektrochemischen Charakterisierung von technischen Elektroden. PhD, Universität Oldenburg.

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Abstract

Die Ohm´sche Rastermikroskopie (SOM) wurde als neuartige Rastersondenmethode zur passiven, systemunabhängigen und flächendeckenden in situ-Detektion der primären Stromdichteverteilung an technischen Elektroden entwickelt. Kernprinzip der Methode ist die Erfassung des Spannungsabfalls im Elektrolyten oberhalb einer elektroaktiven Fläche mittels zweier Mikroreferenzelektroden. Prozesse wie Adsorptions- und Interkalationsreaktionen, die über etablierte Verfahren zumeist nicht visualisierbar sind, können mit einer hohen lateralen Auflösung materialselektiv dargestellt und über eine integrierte Scherkraftabstandsregulation (SF-Regulation) mit topographischen Daten korreliert werden. Weiterhin wurden zielgerichtete Untersuchungen zur Abhängigkeit der SF-Regulation von unterschiedlichen Parametern durchgeführt sowie die Einsatzperspektiven der Elektrochemischen Rastermikroskopie mit gekoppelter SF-Regulation an Gasdiffusionselektroden und farbstoffsensibilisierten Solarzellen demonstriert.

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Application potential of scanning probe methods for the electrochemical characterization of technical electrodes

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The scanning ohmic microscopy (SOM) was developed as a new scanning probe method for the passive and system independent in situ-imaging of the primary current distribution at technical electrodes. Core principle of SOM is the measurement of the potential drop between two microreference electrodes within the electrolyte above an electroactive sample. Processes like adsorption and intercalation reactions, which are mostly not visualizable by established techniques, can be recorded material selective with a high lateral resolution and correlated with topographical data by an integrated shear force distance control (SF-control). In addition, targeted investigations on the dependency of the SF-control from different parameters were conducted and the application perspectives of SF-control coupled scanning electrochemical microscopy were demonstrated at gas diffusion electrodes and dye sensitized solar cells.

Item Type:	Thesis (PhD)
Uncontrolled Keywords:	Rastersondenmikroskopie, Rasterelektrochemisches Mikroskop, Rastermikroskopie, Elektrische Stromdichte, Scherkraftabstandsregulation
Subjects:	Science and mathematics > Chemistry
Divisions:	Faculty of Mathematics and Science > Department of Chemistry (IfC)
Date Deposited:	20 Jul 2018 10:05
Last Modified:	20 Jul 2018 10:05
URI:	https://oops.uni-oldenburg.de/id/eprint/3636
URN:	urn:nbn:de:gbv:715-oops-37173
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